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シリコン·ナノデバイスを用いた室温での単一電子転送と検出-SOIを使った素子作製とその特性評価-

机译:使用硅纳米器件在室温下进行单电子转移和检测-使用SOI进行器件制造及其特性评估-

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摘要

単一電子転送素子と高感度電荷検出素子を組み合わせたシリコン·ナノデバイスを作製した.転送素子は直列に接続された2つの細線FETで構成され,各托Tを交互に開閉することで単一電子が電子蓄積部へと転送される. 電子蓄積部に近接して電荷検出用トランジスタのチャネルを形成し,電流変化をモニタすることで蓄積部の電子を検出する?動作原理を低温で確認するとともに孝子構造と動作条件の改良により室温での単一電子転送と検出に成功した. このデバイスでは陀T.を用いて電子を転送,蓄積することから高速な電子転送と長い電子保持時間が可能である. これらの特長を生かした単一電子多値メモリへの応用可能性も示した.
机译:我们已经制造出一种硅纳米器件,它结合了一个电子传输元件和一个高灵敏度电荷检测元件。传输元件由串联连接的两个细线FET组成,并且通过交替地打开和闭合每个T来将单个电子传输到电子存储单元。靠近电子存储单元的电荷检测晶体管。通过形成上述通道并监视电流变化来检测存储部分中的电子,我们确认了低温下的工作原理,并通过改善高子的结构和工作条件成功地进行了单电子转移和室温下的检测。使用此设备,T。由于使用电子来转移和存储电子,因此可以实现高速电子转移和更长的电子保留时间,我们还展示了利用这些特性的单电子多值存储器的适用性。

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