FTAを活用した故障解析精度の向上による加速試験開発モデルの研究と半導体センサーへの応用

摘要

近年，エレクトロニクスの高度化に伴い，センサーが船舶や車両の安全性及び快適性など広い範囲で使用されている．しかし，これらは一般の電子部品と異なり厳しい環境下で用いられることが多く従来の試験法では十分な信頼性評価ができない場合がある．この場合適切な加速試験法の開発が必要であるが，的確な故障メカニズムの解明が基本となる．しかし，故障メカニズムの解明には多くの知識と経験を要し分析的な才能と，緻密な性格及び最後まで頑張る忍耐と冷静さを持ち，勘は働かすが事実に忠実であることなどが必要であり，設計や実験担当技術者でも故障解析の経験の少ない人は原因究明の糸口となる事実を見逃す事があるとも言われている．