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薄層多重反射法を用いたUHF帯における液体試料の縦波音響特性の測定法と糖類水溶液への適用

机译:薄层多重反射法测量UHF波段液体样品纵向声学特性的方法及其在糖水溶液中的应用

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摘要

我々は、VHF帯及びUHF帯で固体、液体、生体試料等の音響特性を高精度に計測できる超高周波平面超音波材料解析システムを開発してきた。 最近、純水カプラの厚さをミクロンオーダまで簿層化することで減衰を小さくし、UHF帯で高精度に測定を行う方法を提案し、1GHzを超える周波数での計測に成功している。 この場合、超音波は薄層カプラ内で多重反射し干渉するため、その干渉波形を解析する必要がある(薄層多重干渉法)。 この測定法は、同じ構成で固体試料のみならず液体試料にも適用可能である。 固体試料に特性が既知の材料を用いることで、逆にカプラの音響特性を求めることができる。 本報では、薄層多重干渉法で液体試料を計測する方法について述べる。 また、従来の方法では損失が大きいために測定が困難であった1GHzを越える周波数での計測の一例として、重量濃度25%のグルコース水溶液を200MHz~1.6GHzまで測定した結果について述べる。
机译:我们已经开发了一种超高频平面超声材料分析系统,可以在VHF频段和UHF频段中以高精度测量固体,液体,生物样品等的声学特性。最近,我们提出了一种通过将纯水耦合器的厚度堆叠到微米量级并在UHF频带中执行高精度测量来减小衰减的方法,并成功地在超过1 GHz的频率下进行了测量。在这种情况下,由于超声波在薄层耦合器中被多次反射并相互干扰,因此有必要分析干扰波形(薄层多重干扰法)。该测量方法不仅可以应用于固体样品,而且可以应用于具有相同构造的液体样品。通过将具有已知特性的材料用于固体样品,可以相反地获得耦合器的声学特性。该报告描述了一种通过薄层多重干扰法测量液体样品的方法。另外,作为在超过1GHz的频率下进行测量的示例,由于其通过传统方法的大损失而难以测量,因此将描述在200MHz至1.6GHz下测量具有25%重量浓度的葡萄糖水溶液的结果。

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