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【24h】

エネルギー解放率によるMID回路性の評価法

机译:用能量释放率评估MID电路性能的方法

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摘要

MID閏の基板材科の開発に当って,成形基板の表面から数μmの深さを切削する「微小切削試臓」で得られる切削力から「エネルギー解放率」を算出する新たな理論式を導出し,これを用いてMID基板の回路密着力を合理的に評価することのできる新しい評価方法を開発した。 成形基板単体のエネルギー解放率が従来からの鋼膜との密着強度に対して正の相関関係を示した。 さらに,微小切削試験における破壊現象は,従来からの剥離強度試験のそれと同様であった。
机译:在开发MID the的基板材料部门时,使用了一个新的理论公式,用于根据由“微切割测试样本”获得的切削力计算“能量释放率”,该“微切割测试样本”从成型的基板表面切开了几微米的深度。我们已经开发出一种新的评估方法,该方法可以推导并用于合理评估MID板的电路附着力。单独的模制基板的能量释放速率显示出与常规的与钢膜的粘合强度正相关。此外,微切削试验中的断裂现象与常规剥离强度试验中的断裂现象相似。

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