磁性多層膜を有する微小ドットの磁気力顕微鏡による磁化状態操作

摘要

近年，磁性量子セルラーオートマタ（MQCA：magnetic quantum cellular automaton）をはじめとする微小磁性体を用いたデバイスは，次世代を担う情報処理デバイスの有力な候補として注目を集めている．MQCA等の基礎的研究では，各磁性体の磁化情報を任意に制御することが不可欠となる．我々はこれまでに，磁気力顕微鏡（MPM：magnetic force microscope）を利用し，磁性体の磁化状態を制御する手法を提案してきた［1］．しかしながら，これまでの手法では，基板表面に二次元的に配置された微小磁性体のみを磁化状態の制御対象としており，磁性多層膜を有する微小磁性ドットへの磁化状態制御手法は未だ確立されていない．そこで，本研究では，磁気力顕微鏡を用い，磁性多層膜からなる磁性ドットの各磁性層の磁化状態を制御する手法を確立することを目的とする．