机译:二项式广义估计方程(GEE)模型的拟合优度统计的幂和I类错误率
Goodness of fit; Generalized estimating equations; GEE; Correlated binary data; Type I error; Power;
机译:二项式广义估计方程(GEE)模型的拟合优度统计的幂和I类错误率
机译:具有幂型非线性的广义Zakharov方程解的爆破率的下界估计
机译:考虑能力估算精度的IRT FIT统计的经验功效和I类错误率
机译:基于平滑方法的二元纵向数据的GEE模型的健康测试
机译:广义线性模型和广义估计方程的诊断和模型选择
机译:偏差I类错误率和潜在调解的统计功效存在不变性的模型
机译:表2:来自广义估计方程(GEE)模型的参数估计和测试统计。