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【24h】

量子ドット中の電子密度分布の観察に成功近接場光学顕微鏡の分解能を3nmに向上

机译:成功观察量子点中的电子密度分布将近场光学显微镜的分辨率提高到3 nm

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摘要

京都大学化学研究所ナノ量子元素科学領域の松田一成·助教授は近接場光学顕微鏡を改良して、量子ドット中の電子密度分布を観察することに成功した(Fig)。 単一電子による記憶素子として期待される量子ドット素子の開発などに役立つと期待される。 同顕微鏡は短時間の観察時間でも3nm程度の分解能があるのが特徴。従来は、分解能と観察時間はトレードオフの関係にあった。
机译:京都大学化学研究所纳米量子元素科学领域的助理教授松田一成(Kazunari Matsuda)改进了近场光学显微镜,并成功地观察了量子点中的电子密度分布(图)。预期对于量子点元件的开发是有用的,量子点元件被期望用作使用单个电子的存储元件。该显微镜的特点是即使在很短的观察时间内其分辨率也约为3 nm。过去,分辨率和观察时间之间需要权衡。

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