...
首页> 外文期刊>Автометрия >АНАЛИЗ СВЧ-ПОТЕРЬ В ГЕТЕРОСТРУКТУРНЫХ pin-ДИОДАХ AlGaAs/GaAs
【24h】

АНАЛИЗ СВЧ-ПОТЕРЬ В ГЕТЕРОСТРУКТУРНЫХ pin-ДИОДАХ AlGaAs/GaAs

机译:AlGaAs / GaAs异结构PIN二极管的微波损耗分析。

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
   

获取外文期刊封面封底 >>

       

摘要

С помощью численного моделирования исследована зависимость величины вносимых СВЧ-потерь от параметров структуры гетеростуктурного pin-диода. Определены механизмы возникновения этих потерь и выявлен механизм, оказывающий на потери наибольшее влияние.
机译:使用数值模拟,研究了引入的微波损耗的大小对异质结构pin二极管结构参数的依赖性。已经确定了这些损失的发生机理,并确定了对损失影响最大的机理。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号