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K熱電対の経時変化とその回復方法について<K熱雷対の焼鈍による熱起電力変化の実験>

机译:K热电偶的时间变化及其恢复方法

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摘要

K熱電対を購入してから何回か使用するうちにその温度がほとんど上昇していった。 中には半年間で温度が約4℃(300℃にて)高くなるものもあった。 短時間で温度が変化すると計測の信頼性がなくなぅてしまうどころか、それを使用して検査·校正を行っている試験機自体の信頼性もなくなってしまう。 何が原因なのかいろいろと追及したところK熱電対特有の不可避誤差(短範囲規則格子変態:ショールンジオーダリング)による熱起電力の変化であるのではないかと考えた。そこで実際に参考文献に従いK熱電対を焼鈍して元の熱起電力に戻すことの実験をし、あわせて時間と温度に依存するこの現象を数値的に表したので報告をする。
机译:购买K热电偶并使用几次后,其温度几乎升高。在某些情况下,温度在半年内上升了约4°C(在300°C时)。如果温度在短时间内变化,则测量的可靠性将不会丢失,并且使用它进行检查和校准的测试机本身的可靠性也将丢失。在研究了各种原因之后,我认为这可能是由于K热电偶特有的不可避免的误差(短程规则晶格变换:Shorunji排序)引起的热电动势的变化。因此,我们实际上进行了一个实验来淬灭K热电偶,并根据参考值将其恢复为原始热电动势,并且还用数字方式报告这种现象,该现象取决于时间和温度。

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