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球面収差補正走査透過型電子顕微鏡法による材料解析

机译:球差校正扫描透射电镜的材料分析

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摘要

透過型電子顕微鏡法をベースとした手法は材料の内部構造を解析する有力な手段である.近年,球面収差補正技術の開発によって電子顕微鏡の性能は飛躍的に向上し,特にその恩恵を大きく受けた走査通過型電子顕微鏡法は材料の原子レベルでの構造解析に数多く応用されるようになってきている.本稿では,我々がこれまでに行ってきた球面収差補正走査透過型電子顕微鏡法を用いた材料解析の例について紹介する.
机译:基于透射电子显微镜的技术是分析材料内部结构的强大工具。近年来,由于球面像差校正技术的发展,电子显微镜的性能得到了显着改善,受益匪浅的扫描型电子显微镜已广泛应用于材料原子级的结构分析。它来了。在本文中,我们介绍了迄今为止使用球面像差校正扫描透射电子显微镜进行材料分析的示例。

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