首页> 外文期刊>金属 >高分解能電子顕微鏡法の基礎と収差補正
【24h】

高分解能電子顕微鏡法の基礎と収差補正

机译:高分辨率电子显微镜的基本知识和像差校正

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

電子顕微鏡の分野で最近話題になっている収差補正技術について,高分解能透過電子顕微鏡法の基礎からはじめ,収差補正で得られる特徴を実例を使って説明する.収差補正は,顕微鏡の点分解能を上げるだけでなく,ナノ構造観察で重要な界面·表面の観察にも有用性を与える.また従来は考えられなかった負の収差係数を実現したり,数nm以下の領域からの制服視野電子回折が簡単にできるようにもなる.
机译:我们将解释像差校正技术,该技术近来已成为电子显微镜领域的热门话题,它是从高分辨率透射电子显微镜的基础知识出发,并使用通过像差校正获得的特征的实际示例。磨料校正不仅可以改善显微镜的点分辨率,还可以用于观察界面和表面,这对于观察纳米结构非常重要。另外,可以实现过去无法想到的负像差系数,并且可以容易地从几nm或更小的区域进行均匀的场电子衍射。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号