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像差校正器以及电子显微镜

摘要

为了提供像差校正范围宽且容易控制并能够实现高精度的像差校正并且低成本的像差校正器,在使电子射线经过中心轴(201)的像差校正器中,具备:第一电流线群(101‑112),在从中心轴起相隔R1的位置处与光轴平行地配置,激励第一多极场;以及第二电流线群(21‑32),在从中心轴起相隔R2的位置处与光轴平行地配置,独立地激励阶数及强度与所述第一多极场不同的第二多极场。

著录项

  • 公开/公告号CN110088872A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社日立高新技术;

    申请/专利号CN201680091739.5

  • 发明设计人 中野朝则;

    申请日2016-12-27

  • 分类号H01J37/153(20060101);

  • 代理机构11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人金光华

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2024-02-19 13:13:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01J37/153 申请日:20161227

    实质审查的生效

  • 2019-08-02

    公开

    公开

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