治具のTパラメータを用いる多ポート回路のSパラメータ推定法－測定と回路のポート数が異なる場合

摘要

治具を介した間接測定により被測定回路のSパラメータを求める一方法について，測定ポート数と被測定回路のポート数が異なる場合を検討している．本方法では，まず，被測定回路の代わりに既知の負荷を治具に接続し，残りのポート間のSパラメータを測定することで治具のTパラメータを推定する．次に，治具に被測定回路を接続したときの測定値から治具の特性を取り除くことで，被測定回路のSパラメータを得る．治具のTパラメータを用いる利点は，その推定式が線形方程式になることにある．治具を介する測定ポート数が被測定回路のポート数と異なる場合を検討し，測定ポート数が多い場合に治具のTパラメータが推定でき，被測定回路のSパラメータが得られることを述べている．