偏光解析法に基づいた液晶材料の弾性定数K22の高精度測定

摘要

簡単かつ高精度な液晶材料の弾性定数K22の測定法を考案した。エリプソメトリを用いた捻れ配向液晶の電圧OFP時およびON時における偏光解析より液晶セルパラメータと弾性定数K22をそれぞれ分離して順次決定することに成功し、かつ測定精度の向上を達成した。本研究の成果により、配向分布にねじれを有する液晶デバイスの精密な設計·評価が可能となる他、将来は粘性係数の測定·評価に基づく動特性解析技術の確立により、液晶デバイスの高速化に大きく貢献できる。