偏光解析法に基づいた液晶材料の弾性定数K22の高精度測定

摘要

簡単かつ高精度な液晶材料の弾性定数K22の測定法を考案した。エリプソメトリを用いた捻れ配向液晶の電圧OFF時およびON時における偏光解析より液晶セルバラメ一夕と弾性定数K22をそれぞれ分離して順次決定することに成功し、かつ測定精度の向上を達成した。本研究の成果により、配向分布にねじれを有する液晶デバイスの精密な設計・評価が可能となる他、将来は粘性係数の測定・評価に基づく動特性解析技術の確立により、液晶デバイスの高速化に大きく貢献できる。%A simple and accurate new method for measuring the twist elastic constant K22 of liquid-crystal (LC) materials was devised. We proposed a novel technique, based on ellipsometry analysis, to determine the director profile of a twisted nematic LC cell in the on state, and successfully obtained the value of K22 with a high degree of accuracy. We validated this procedure experimentally, and showed that it is effective for evaluating the response characteristics of LCDs.