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ITO透明導電膜の低温成膜における水蒸気の効果

机译:水蒸气对ITO透明导电膜低温成膜的影响

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摘要

我々は、運動エネルギー制御堆積法を用いたITO透明導電膜の低温作製を提案し、この方法を用いることで、50℃以下の低温基板上でも、3.5×10{sup}(-4)Ωcmの低抵抗で表面平滑性に優れた.ITO膜が作製できることを報告した。しかしこの方法では①堆積速度が遅い、②成膜中の基板温度が通常のスパッタ法に比べて低いために、残留水蒸気の影響の有無を明らかにすることが求められていた.。 本研究では、上記堆積法を用いた基板温度50℃以下の低温成膜における水蒸気の導入効果を詳細に検討した。 その結果、成膜時にスパッタ槽内への水蒸気の導入は、キャリア密度を増力はせる効果は認められないこと、得られる膜のキャリア移動度は、導入無しの膜と比較して増加すること、これらの結果として膜の電気的特性は劣化することが分かった。これは水蒸気の導入によって、膜中にOの代わりにOHが取り込まれ、より移動度を減少させてしまうものと考えられた。
机译:我们已经提出了使用动能控制沉积方法低温制造ITO透明导电膜的方法,并且通过使用该方法,即使在50°C或更低的低温基板上,也可以达到3.5×10 {sup((-4))Ωcm。它具有低电阻和出色的表面光滑度。据报道,可以生产ITO膜。但是,在该方法中,(1)成膜速度慢,(2)成膜时的基板温度比通常的溅射法低,因此需要明确是否残留水蒸气的影响。 ..在该研究中,详细研究了使用上述沉积方法在基板温度为50°C或更低的低温成膜中引入水蒸气的效果。结果,在成膜时将水蒸气引入溅射槽中没有增加载流子密度的效果,并且与没有引入的膜相比,所获得的膜的载流子迁移率增加。结果,发现膜的电性能劣化。认为水蒸气的引入导致OH而不是O被引入膜中,从而进一步降低了迁移率。

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