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世界初、シリコンCMOSトランジスタの限界を打破する革新的技術を開発

机译:开发了世界上首个突破硅CMOS晶体管极限的创新技术

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摘要

新エネルギー·産業技術総合開発機構(NEDO)の若手研究グラントの一環として、九州大学の浜屋宏平准教授は、シリコンCMOSトランジスタの高性能化限界を打破する革新的なメタルソース/ドレイン技術を開発した。次世代の高速半導体チャネル材料として期待されているゲルマニウムのゲルマニウムと金属の接合界面を原子層レベルで高度に制御できるこの技術は、これまで不可能と考えられてきたメタルソース/ドレインのn-ゲルマニウムチャネルトランジスタの作製を可能とし、寄生抵抗を大幅に低減したGe-CMOSを実現することができる。
机译:九州大学副教授Kohaya Hamaya作为新能源和工业技术开发组织(NEDO)的青年研究资助的一部分,开发了一种创新的金属源极/漏极技术,该技术突破了硅CMOS晶体管高性能的极限。 ..这项技术可以在原子层水平上高度控制锗与金属之间的结界面,有望作为下一代高速半导体通道材料,它是一种金属源极/漏极n锗,迄今为止一直被认为是不可能的。可以制造沟道晶体管并实现具有显着降低的寄生电阻的Ge-CMOS。

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  • 来源
    《金属時評》 |2011年第2185期|共2页
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  • 正文语种 jpn
  • 中图分类 冶金工业;
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