机译:抑制掺杂铜酸盐的关键性能
INHOMOGENEOUS ISING MODELS; T-C; CONTINUUM PERCOLATION; SUPERCONDUCTORS; BEHAVIOR; DEFECTS;
机译:抑制掺杂铜酸盐的关键性能
机译:与重型超级导电器相比,由掺杂高Tc铜酸酯的孔孔掺杂的临界电流密度揭示的量子临界行为
机译:掺杂不足的铜酸盐在向列型临界点的超导性抑制
机译:PseudoGAP现象,量子临界性和高T_C超导性在孔掺杂铜铝酸盐中
机译:掺杂的钇钡钡钡熔体纹理化块状单晶的加工,以增强超导性能。
机译:与重费米子超导体相比掺杂高Tc铜的空穴的临界电流密度揭示了可能的量子临界行为
机译:电子掺杂铜酸铜的红外特性:跟踪PR 2 - X CE X CuO 4中的正常状态间隙和量子临界行为