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机译:化合物半导体InP纳米压痕测试中的表面和亚表面损伤
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机译:用多环纳米压痕研究单晶锗的表面损伤行为
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机译:复合半导体InP的纳米压痕和金刚石车削测试
机译:纳米狭窄检测和原子模型,评价氢离子辐射钨的位移损伤阈值
机译:纳米狭窄测量残余应力对Inconel 718的加工地下的影响
机译:通过核电子an灭识别化合物半导体中的空位缺陷:在InP中的应用
机译:惰性气体添加剂种类对Cl(2)化合物半导体高密度等离子体刻蚀的影响:第二部分。 Inp,Insb,InGap和InGaas;应用表面科学