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机译:通过纳米压痕确定陶瓷薄膜厚度
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机译:新型改进的棱镜波导耦合器系统测定碳纳米管薄膜的厚度和光学参数
机译:确定溶液沉积厚度的新方法石墨烯薄膜
机译:FiptiCS F40-UV薄膜分析仪测定纳米材料膜厚度;标准操作程序系列:表征(C)