首页> 外文OA文献 >Determination of nanomaterials’ film thickness using filmetrics F40-UV thin-film analyzer; Standard Operating Procedure Series : Characterization (C)

【2h】

Determination of nanomaterials’ film thickness using filmetrics F40-UV thin-film analyzer; Standard Operating Procedure Series : Characterization (C)

机译：FiptiCS F40-UV薄膜分析仪测定纳米材料膜厚度;标准操作程序系列：表征（C）

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Qihau Wu; Kathryn Kremer; Stephen Gibbons;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2019
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Measurement of the Beruforge 152DL thin-film lubricant using a developed thin-film thickness standard [J] . Sebastian Metzner, Tamara Reuter, Tino Hausotte Journal of Sensors and Sensor Systems . 2020,第1期

机译：使用发达的薄膜厚度标准测量Beruforge 152DL薄膜润滑剂
2. Measurement of the Beruforge 152DL thin-film lubricant using a developed thin-film thickness standard [J] . Progress in Artificial Intelligence . 2020,第1期

机译：使用发达的薄膜厚度标准测量Beruforge 152DL薄膜润滑剂
3. NEW FROM OMNISCAN THE FILMETRICS F42 High-Resolution Thickness Maps of Microscopic Areas [J] . Surface World Group Surface World . 2015,第9期

机译：OMNISCAN的新产品FILMETRICS F42微观区域的高分辨率厚度图
4. Semiconductor thin-film optical constant determination and thin-film thickness measurement equipment correlation [C] . Anne M. Kaiser, Digital Equipment Corp., Marlborough, Integrated Circuit Metrology, Inspection, and Process Control V . 1991

机译：半导体薄膜光学常数测定与薄膜厚度测量设备的相关性
5. Synthesis, Characterization, and Applications of Solution-processed Nanomaterials: From Thin-film Transistors to Flexible "Smart Bandages" [D] . Swisher, Sarah Lohry. 2015

机译：溶液处理纳米材料的合成，表征和应用：从薄膜晶体管到柔性“智能绷带”
6. Determination of Tear Lipid Film Thickness Based on a Reflected Placido Disk Tear Film Analyzer [O] . Pin-I Fu, Po-Chiung Fang, Ren-Wen Ho, 2020

机译：基于反射式Placido圆盘撕裂膜分析仪的撕裂脂膜厚度测定
7. Measurement of the Beruforge 152DL thin-film lubricant using a developed thin-film thickness standard [O] . Sebastian Metzner, Tamara Reuter, Tino Hausotte 2020

机译：使用发达的薄膜厚度标准测量Beruforge 152DL薄膜润滑剂

Determination of nanomaterials’ film thickness using filmetrics F40-UV thin-film analyzer; Standard Operating Procedure Series : Characterization (C)

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅