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Transmission electron microscopy of Cd3As2 and eutectoid Cd3As2-As crystals

机译:Cd3As2和共析Cd3As2-As晶体的透射电子显微镜

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摘要

Cadmium arsenide, Cd3As2, is a narrow band-gap semiconductor with forbidden energy gap of 0.14 eV The electron density in as-grown n-type crystals is as high as 2 X 1024 m-3 [1] and electron mobilities have been reported from 0.3 to 2.0 m2 V-1 s-1 at 300 K, while approaching 28m2V-1s-1 at 4.2 K [2,3] making them suitable for photo detectors, thermal detectors, ultrasonic multipliers, and Hall generators [4, 5]. Hence, crystal and band structures remain of interest [6].
机译:砷化镉Cd3As2是一种窄带隙半导体,禁带能隙为0.14 eV。生长中的n型晶体的电子密度高达2 X 1024 m-3 [1],据报道,电子迁移率来自300 K时为0.3至2.0 m2 V-1 s-1,而4.2 K时接近28m2V-1s-1 [2,3]使它们适用于光电探测器,热探测器,超声倍增器和霍尔发生器[4,5] 。因此,晶体和能带结构仍然令人关注[6]。

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