...
机译:使用测试元件组芯片的低功耗Logic-BIST方案的物理功耗评估
Scan Testing; At-Speed Test; Logic-BIST; Low Power; TEG Chip;
机译:使用测试元件组芯片的低功耗Logic-BIST方案的物理功耗评估
机译:适用于低功耗SoC平台的片上存储器电源切断方案
机译:基于核的片上系统(SOC)的新型高效功率片上测试方案
机译:基于扫描的高效BIST方案可对VLSI芯片进行低功耗测试
机译:低功率风力涡轮发电机系统中最大功率提取的控制方案设计。
机译:使用等位基因匹配测试来检测低频变体关联的权力的评估该试验考虑不确定性
机译:通过功率循环测试和热循环测试的有限元分析评估半导体功率器件的疲劳寿命