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机译:具有半确定性测试模式和零混淆压实器的按时钟测试逻辑BIST
Built-in self test; Test-per-clock testing; Test pattern compression; Test response compaction; Zero aliasing error;
机译:具有半确定性测试模式和零混淆压实器的按时钟测试逻辑BIST
机译:ZATPG:基于SAT的测试模式生成器,在时间压缩中具有零混淆
机译:ZATPG:基于SAT的测试模式生成器,在时间压缩中具有零混淆
机译:SR-TPG:低转换测试码型发生器,用于按时钟测试和按扫描测试BIST
机译:用于多阈值NULL约定逻辑(MTNCL)电路的内置自检(BIST)
机译:致密性乳糖类型的改变解释了无序乳糖的非典型压紧行为
机译:用于测试每时钟BIST方案的低成本测试图案发生器