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Application of scanning tunnelling microscopy [STM] & atomic force microscopy [AFM] in colloid & surface chemistry (nanotechnology)

机译:扫描隧道显微镜[STM]和原子力显微镜[AFM]在胶体和表面化学中的应用(纳米技术)

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摘要

Scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) are powerful tools for obtaining information on the packing order of molecular adsorption on a surface. Data obtained from STM images can be useful in providing information on the relative importance of molecule-molecule and molecule-substrate interactions. Molecular dimensional analyses of surfaces, and molecules situated at surfaces can be carried out. STM and AFM allow the possibility of measuring the interfacial forces.
机译:扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)是获得有关表面上分子吸附的堆积顺序信息的强大工具。从STM图像获得的数据可用于提供有关分子-分子和分子-底物相互作用的相对重要性的信息。可以对表面以及位于表面的分子进行分子尺寸分析。 STM和AFM允许测量界面力。

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