机译:基于Borrmann效应的X射线形貌研究ZnGeP2晶体的结构缺陷
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机译:同步带隙白光X射线形貌,透射电子显微镜和高分辨率X射线衍射研究宽带隙半导体晶体和薄膜中的缺陷和应变松弛过程
机译:X射线地形揭示Zngep_2单晶中的结构缺陷
机译:同步辐射白光X射线形貌表征微重力和地基CdZnTe晶体中的结构缺陷
机译:使用同步加速器白束X射线形貌研究CdZnTe和InP单晶中的缺陷生成。
机译:使用基于同步加速器的透射软X射线显微镜对光子晶体中的局部结构和缺陷进行纳米级表征
机译:利用Borrmann效应揭示大体积硅晶体缺陷结构的X射线计算机断层摄影设备的构造
机译:使用异步加速器白光束X射线形貌表征Lely 6H-siC单晶中的缺陷结构