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机译:CMOS数据转换器的ΔI_(DDQ)测试〜+
Built-in current sensors (BICS); ΔI_(DDQ) testing; CMOS analog/mixedsignal IC testing; CMOS data converter testing; ADC; DAC;
机译:CMOS数据转换器的ΔI_(DDQ)测试〜+
机译:一个简单的内置电流传感器,用于CMOS数据转换器的I_(DDQ)测试
机译:考虑工艺变化影响的CMOS数模转换器的△I_(DDQ)测试
机译:用于检测CMOS / BiCMOS电路中的$ I_ {DDQ} $故障的故障表征和可测试性设计技术
机译:基于数据挖掘的图形化CMOS I(DDQ)测试签名。
机译:具有混合CMOS /忆阻器电路的Hopfield网络模数转换器的建模和实验演示
机译:Δi I subDDQ / sub i / i = 1。考虑工艺变化影响的CMOS数模转换器的测试
机译:CmOs IC故障模型,物理缺陷覆盖和I(子DDQ)测试。