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雷绍充; 邵志标;
西安交通大学电子与信息工程学院;
深亚微米技术; 测试图形; 故障覆盖率; 集成电路测试; CMOS电路; SOC; 测试机; 数据; 生成方法; 电流测量;
机译:考虑工艺变化影响的CMOS数模转换器的△I_(DDQ)测试
机译:CMOS放大器电路的组合振荡和I_(DDQ)测试
机译:新颖的基于电流传感器的内置CMOS集成电路$ I_ {rm DDQ} $测试方案
机译:基于LFSR的快速种子选择技术,减少I_(DDQ)测试的测试时间
机译:通过I(DDQ)测试进行故障仿真和故障建模。
机译:使用系统化方法研究长期护理中痴呆症患者抗精神病药物的决策辅助工具的开发和试点测试:研究方案
机译:总统选举暴力选举的规则对其进行了结构化,系统化和全面的审查选举综合选举的实施(关于构成数字ud的法院的决定研究1 / PHPU.PRES-XII / 2014)
机译:阀门和配件以及核部件的水和蒸汽的研究和测试。在服务条件下使用全面的测试设备进行25年测试的结果
机译:可通过累积字线激活(I_DDQ)测试存储器I_DDQ
机译:电子测试仪,用于测试集成电路芯片中的ddq
机译:使用自动测试仪上的多个受控塌陷芯片连接电流测量来确定I DDQ Sub>缺陷的方法
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