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【24h】

Circuits for disjunction admitting short unitary diagnostic tests

机译:用于进行短期整体诊断测试的分离电路

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摘要

We study tests for circuits realising disjunction. In a circuit, the inversion fault is allowed at the output of precisely one functional element. For any functionally complete basis B it is found that for any n 3 the disjunction of n variables can be realised by a circuit over B which admits a unitary diagnostic test consisting of at most two tuples. It is proved that this result cannot be improved in the general case.
机译:我们研究实现分离的电路的测试。在电路中,恰好在一个功能元件的输出端允许反相故障。对于任何功能完备的基础B,发现对于任何n 3,n变量的分离都可以通过B上的电路来实现,该电路允许由最多两个元组组成的单一诊断测试。事实证明,这种结果在一般情况下无法得到改善。

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