机译:表观生长的N-GAAS层中由溅射沉积引起的缺陷的电学表征
Level transient spectroscopy; Schottky-barrier diodes; Ti-w; Silicon; Damage; Identification; Irradiation; Contacts; Si;
机译:表观生长的N-GAAS层中由溅射沉积引起的缺陷的电学表征
机译:氮掺杂直拉生长硅衬底上外延层的晶体缺陷(Ⅱ)“通过控制晶体生长条件和碳共掺杂抑制外延层中的晶体缺陷”
机译:热退火对N-GaAs(001)生长的ZnO外延膜的光学和电性能的影响
机译:非接触式电气缺陷表征和平面种植外延层的地形
机译:射频生长的外延碲化镉和碲化铅层的表征磁控溅射
机译:蓝宝石/铂上脉冲激光沉积生长的LuFeO3外延层的结构质量
机译:生长和H等离子体处理的CdTe外延层的电学表征