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Spectroscopic Studies of Thin Film Electron Trapping Optical Memory Media (CaS:Eu,Sm)

机译:薄膜电子阱光学存储介质(CaS:Eu,Sm)的光谱研究

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摘要

Films of the potential electron trapping optical memory medium CaS:Eu,Sm produced from optimally composed sputtering targets, are themselves optimized by post-deposition thermal processing in a sulfur atmosphere. X-ray diffraction studies and a variety of spectroscopic techniques are used to study the development of crystalline structure and the deployment of the active Eu and Sm species within the CaS host lattice.
机译:由最佳组成的溅射靶产生的势电子俘获光学存储介质CaS:Eu,Sm的薄膜本身通过在硫气氛中进行后沉积热处理进行了优化。 X射线衍射研究和各种光谱技术用于研究晶体结构的发展以及CaS主晶格内活性Eu和Sm物种的分布。

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