机译:通过使用同步加速器辐射的可变激发XPS对用于细间距四点探针的钨和碳化钨-钴探针材料进行表面表征
XPS; depth profiling; tungsten; tungsten carbide; synchrotron radiation; EFFECTIVE ATTENUATION LENGTHS; RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY; AUGER-ELECTRON SPECTROSCOPY;
机译:通过使用同步加速器辐射的可变激发XPS对用于细间距四点探针的钨和碳化钨-钴探针材料进行表面表征
机译:立方氮化硼膜在粗糙的硅和碳化钨-钴表面上的沉积增强
机译:用共沸探针技术测量氧化钨和氧化钴表面的DLVO相互作用
机译:激光辐照碳化钨-钴的液相烧结
机译:硬质材料表面的离子束辐照:锑化镓和硅衬底的纳米构图以及超细和多峰钨的辐照损伤。
机译:通过同步辐射散射技术探测超疏水表面上的液滴
机译:具有全钨悬臂和尖端的导电探头,用于扫描探针应用
机译:标准参考材料:100 mm直径silicon211电阻率sRm 2541至2547的认证使用双配置四点探针211测量。 1999年版