Durch Kombination verschiedener Systeme zur optimierten Testlosung - Integrierter Test

摘要

Fur lange Zeit reichten die auf dem Markt befindlichen In Circuit-, Funktions- und Flying Probe Tester aus. Der Trend zu hoherer Packungsdichte und Geschwindigkeit hat die Baugruppentester in einem Engpass getrieben, der besonders im Bereich der Nadelbettadapter sichtbar wird. Als Ausweg erweiterten die Testerhersteller ihre Gerate mit JTAG Testsoftware auf Boundary Scan Technik. Hiermit wird eine hohere Testabdeckung erzielt. Die nahtlose Integration beider Technologien ist fur einen optimalen Test des Pruflings notwendig. Wahrend Marktanalysten diesem Ansatz eine vielversprechende Zukunft voraussagen stellen Seica und Temento Systems eine effektive Integration vor.