Seiko Instruments GmbH Nanotechnology mit dem Mikrospotanalysator SEA6000VX und den Schichtdickenanalysator SFT110

摘要

SEA6000VX ermoglicht die Messung von Metallspuren und gefahrlichen Elementen, ohne das Produkt zu zerstoren. SEA6000VX ist mit einem elektrisch gekuhlten Halbleiter Detektor fur hohen Zahlratendurchsatz und einem Dual-Kamera-System ausgestattet. Bisher mussten grossflachige Analysen an zerlegten Proben durchgefuhrt werden, um eine Aussage uber die Konzentration der regulierten Elemente in der Probe machen zu konnen, das SEA6000VX verfugt uber einen voluminosen Probenraum, so dass grosse Proben einfach analysiert werden konnen. Mit der verbesserten Empfindlichkeit des SEA6000VX konnen Messungen jetzt auf kleineren Flachen bei kurzerer Messzeit durchgefuhrt werden.