首页> 外文期刊>Physics of the solid state >Electron-Microscopic Study of the Surface Layer of an Aluminum–Silicon Alloy after Laser Alloying with Tungsten Carbide
【24h】

Electron-Microscopic Study of the Surface Layer of an Aluminum–Silicon Alloy after Laser Alloying with Tungsten Carbide

机译:碳化钨激光合金化后铝硅合金表面层的电子显微镜研究

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Transmission electron microscopy is used to study the structure of the surface layer of an Al–7 wt % Si alloy subjected to laser alloying. The base volume is found to be occupied by an aluminum matrix having a braidlike structure. New phases have been revealed, and their composition, shape, and spatial distribution have been determined.
机译:透射电子显微镜用于研究经过激光合金化处理的Al-7 wt%Si合金表面层的结构。发现基本体积被具有辫状结构的铝基质占据。已经揭示了新的阶段,并确定了它们的组成,形状和空间分布。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号