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Specification and Measurement of Optical Systems
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1.
Characterization of partially coherent beams
机译:
部分相干光束的表征
作者:
Horst Weber
;
Technical Univ. of Berlin
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
2.
International standardization of measurement methods for x-ray image intensifier tubes
机译:
X射线图像增强管测量方法的国际标准化
作者:
Peter W. Linders
;
Philips Medical Systems
;
Best
;
Netherlands.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
3.
Interferometric testing of annular apertures
机译:
环形孔的干涉测量
作者:
Mauro Melozzi
;
Officine Galileo SpA
;
Campi Bisenzio Firenze
;
Italy
;
Luis Pezzati
;
Officine Galileo SpA
;
Campi Bizenzio Firenze
;
Italy.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
4.
Improvements in OTF measurement technique
机译:
OTF测量技术的改进
作者:
Michael Schulz
;
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
;
Braunschweig
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
5.
Wavefront sensor optimization in astronomical a
机译:
天文a中的波前传感器优化
作者:
Gerard Lelievre
;
Observatoire de Paris
;
Paris
;
France
;
J.Sebag
;
Observatoire de Paris
;
Carnes La Baca
;
France
;
D.Bauduin
;
Observatoire de Paris
;
Paris
;
France
;
F.Fidouh
;
Observatoire de Paris
;
Paris
;
France
;
J.L. Lebrun
;
Observatoire de Paris
;
Paris
;
Fran
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
6.
Wavefront sensors and beam-control systems
机译:
波前传感器和光束控制系统
作者:
Vladimir P. Lukin
;
Institute of Atmospheric Optics/Siberian Branch
;
Tomsk
;
Russia
;
Leonid V. Antoshkin
;
Institute of Atmospheric Optics/Siberian Branch
;
Tomsk
;
Russia
;
Sergei A. Alesandrov
;
Institute of Atmospheric Optics/Siberian Branch
;
Tomsk
;
Russia
;
Y
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
7.
Measure of surface and bulk defects in any transmitting or reflecting optical component
机译:
测量任何透射或反射光学组件中的表面和整体缺陷
作者:
Fabrizio Liberati
;
Agusta O.M.I. S.r.l.
;
Rome
;
Italy.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
8.
Thin films for magneto-optical recording
机译:
磁光记录薄膜
作者:
Paul H. Lissberger
;
Queens Univ. of Belfast
;
Belfast
;
United Kingdom.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
9.
Testing aspherical surfaces using multiple annular interferograms
机译:
使用多个环形干涉图测试非球面
作者:
Mauro Melozzi
;
Officine Galileo SpA
;
Campi Bisenzio Firenze
;
Italy
;
Luis Pezzati
;
Officine Galileo SpA
;
Campi Bizenzio Firenze
;
Italy
;
Alessandro Mazzoni
;
Officine Galileo SpA
;
Campi Bisenzio
;
Italy.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
10.
Target coding to improve the performance of optical measurement systems
机译:
目标编码可提高光学测量系统的性能
作者:
Bernhard Braunecker
;
Leica Heerbrugg Ltd.
;
Heerbrugg
;
Switzerland.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
11.
Specification of the surface figure and finish of optical elements in terms of system performance
机译:
在系统性能方面规范光学元件的表面图形和光洁度
作者:
Eugene L. Church
;
U.S. Army Research Development Command
;
Morristown
;
NJ
;
USA
;
Peter Z. Takacs
;
Brookhaven National Lab.
;
Upton
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
12.
Sphericity and twist as functional parameters to represent surface geometries
机译:
球形度和扭曲度是代表表面几何形状的功能参数
作者:
Johan Meijer
;
Twente Univ. of Technology
;
Enschede
;
Netherlands.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
13.
Phase detection deflectometry: an industrial solution for three-dimensional form measurement of aspheric and spheric surfaces
机译:
相位检测偏折法:用于非球面和球面三维形状测量的工业解决方案
作者:
Eric Durand
;
Etablissements Pierre Angenieux
;
Saint-Heand
;
France
;
Jean-Marie Bacchus
;
Etablissements Pierre Angenieux
;
Saint-Heand
;
France.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
14.
Optical performance and specification for ground-based telescopes
机译:
地面望远镜的光学性能和规格
作者:
Philippe Dierickx
;
European Southern Observatory
;
Garching bei Muenchen
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
15.
Absolute interferometric surface testing: a stringent need
机译:
绝对干涉表面测试:迫切需要
作者:
Karl E. Elssner
;
Berliner Institut fuer Optik GmbH
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany
;
Regina Burow
;
Berliner Institut fuer Optik GmbH
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany
;
Guenter Schulz
;
Berliner Institut fuer Optik GmbH
;
Berlin
;
Federal Republic of G
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
16.
Micro phase-shifting interferometer for surface measurement
机译:
用于表面测量的微相移干涉仪
作者:
Hans-Jorg Heimbeck
;
Fisba Optik AG
;
St. Gallen
;
Switzerland.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
17.
Measurement of the MTF of staring-array imaging systems
机译:
凝视阵列成像系统MTF的测量
作者:
Tom L. Williams
;
Sira Ltd.
;
Chislehurst
;
Kent
;
United Kingdom.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
18.
Evaluation of point spread functions of microscope objectives using moments by modified definitions
机译:
通过修改的定义使用矩来评估显微镜物镜的点扩展函数
作者:
R.Castaneda
;
Univ. Nacional de Colombia Seccional de Medellin
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany
;
Juergen Kross
;
Technical Univ. of Berlin
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
19.
Discrimination of surface properties using BRDF-variance estimators as feature variables
机译:
使用BRDF-方差估计量作为特征变量来区分表面特性
作者:
Hendrik Rothe
;
Friedrich-Schiller-Univ. Jena
;
Jena
;
Federal Republic of Germany
;
Horst Truckenbrodt
;
Friedrich-Schiller-Univ. Jena
;
Jena
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
20.
Measurement equipment for CAQ-based final control of optical systems
机译:
基于CAQ的光学系统最终控制的测量设备
作者:
M.Geier
;
Jos. Schneider Optische Werke Kreuznach GmbH Co.
;
Bad Kreuznach
;
Federal Republic of Germany
;
Karl K. Lenhardt
;
Jos. Schneider Optische Werke Kreuznach GmbH Co.
;
Bad Kreuznach
;
Federal Republic of Germany
;
R.Litschel
;
Jos. Schneider Optische
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
21.
Characterization and measurement of localized surface quality
机译:
表征和测量局部表面质量
作者:
Lionel R. Baker
;
Consultant
;
Sira Ltd.
;
Otpington
;
Kent
;
United Kingdom.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
22.
All-fiber compact near-field scanning optical microscope
机译:
全光纤紧凑型近场扫描光学显微镜
作者:
Pavel Tomanek
;
Technical Univ. Brno
;
Brno
;
Czechoslovakia
;
Michel Spajer
;
CNRS
;
Besancon Cedex
;
France.
会议名称:
《》
|
1992年
23.
New approach for quantitative interferogram analysis
机译:
定量干涉图分析的新方法
作者:
Author(s): F.Guse Technical Univ. of Berlin Berlin Federal Republic of Germany
;
Juergen Kross Technical Univ. of Berlin Berlin Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
24.
ISO standards: a means for quality assurance for optical elements and systems
机译:
ISO标准:一种光学元件和系统的质量保证手段
作者:
Klaus W. Hildebrand
;
Leica Heerbrugg Ltd.
;
Heerbrugg
;
Switzerland.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
25.
Interferometric methods for the measurement of wavefront aberrations
机译:
干涉法测量波前像差
作者:
Ingolf Weingaertner
;
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
;
Braunschweig
;
Federal Republic of Germany
;
Michael Schulz
;
Physikalisch-Technische Bundesanstalt
;
Braunschweig
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
26.
Thin-film characterization and photothermal absolute calibration measurements using high-frequency electric currents
机译:
使用高频电流进行薄膜表征和光热绝对校准测量
作者:
Michael Reichling
;
Freie Univ. Berlin
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany
;
Eberhard Welsch
;
Friedrich-Schiller-Univ. Jena
;
Jena
;
Federal Republic of Germany
;
Eckart Matthias
;
Freie Univ. Berlin
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
27.
Testing aspherics without rotational symmetry using a Fizeau interferometer with computer-generated holograms
机译:
使用带有计算机生成的全息图的Fizeau干涉仪测试没有旋转对称性的非球面
作者:
Tilo Pfeifer
;
Fraunhofer-Institut fuer Produktionstechnologie
;
Aachen
;
Federal Republic of Germany
;
Jens Evertz
;
Fraunhofer-Institut fuer Produktionstechnologie
;
Aachen
;
Federal Republic of Germany
;
Rainer Tutsch
;
Fraunhofer Institut fuer Produktionstechn
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
28.
Speckle-based interferometric technique for surface-finish measurements
机译:
基于斑点的干涉测量技术,用于表面光洁度测量
作者:
Vincenzo Greco
;
Istituto Nazionale di Ottica
;
Firenze
;
Italy
;
Giuseppe Molesini
;
Istituto Nazionale di Ottica
;
Arcetri-Firenze
;
Italy
;
Franco Quercioli
;
Istituto Nazionale di Ottica
;
Arcetri-Firenze
;
Italy.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
29.
Software design for a compact interferometer
机译:
紧凑型干涉仪的软件设计
作者:
Andreas Vogel
;
Berliner Institut fuer Optik GmbH
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
30.
Roughness and defect characterization of optical surfaces by light-scattering measurements
机译:
通过光散射测量来表征光学表面的粗糙度和缺陷
作者:
Horst Truckenbrodt
;
Friedrich-Schiller-Univ. Jena
;
Jena
;
Federal Republic of Germany
;
Angela Duparre
;
Fraunhofer-Institute for Applied Optics
;
Fine Mech anics
;
Jena
;
Federal Republic of Germany
;
Uwe Schuhmann
;
Jenoptik GmbH
;
Jena
;
Federal Republic of Germa
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
31.
Photothermal measurement of temperature-dependent absorbance of infrared components
机译:
光热测量红外成分的温度吸收率
作者:
Peter Eckardt
;
Friedrich-Schiller-Univ. Jena
;
Jena
;
Federal Republic of Germany
;
Heinz-Guenter Walther
;
Friedrich-Schiller-Univ. Jena
;
Jena
;
Federal Republic of Germany
;
Wolfgang Richter
;
Friedrich-Schiller-Univ. Jena
;
Jena
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
32.
Optics in hostile environments
机译:
恶劣环境下的光学
作者:
Philip J. Rogers
;
Pilkington Optronics
;
St. Asaph
;
Clwyd
;
United Kingdom.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
33.
Generation of lens designs for optimization
机译:
生成镜头设计以进行优化
作者:
Michael J. Kidger
;
Kidger Optics Ltd.
;
Crowborough
;
East Sussex
;
United Kingdom.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
34.
New approach for quantitative interferogram analysis,
机译:
定量干涉图分析的新方法,
作者:
F.Guse
;
Technical Univ. of Berlin
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany
;
Juergen Kross
;
Technical Univ. of Berlin
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
35.
Application of the PST-function to radiometric thermometers,
机译:
PST功能在辐射温度计中的应用
作者:
Norbert Schuster
;
Technische Hochschule Ilmenau
;
Ilmenau
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
36.
Geometrical and physical theory of image formation: a synthesis
机译:
图像形成的几何和物理理论:综合
作者:
Harold H. Hopkins
;
Univ. of Reading
;
Reading
;
Berks
;
United Kingdom.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
37.
Global optimization for lens design: an emerging technology
机译:
镜头设计的全球优化:一项新兴技术
作者:
Thomas G. Kuper
;
Optical Research Associates
;
Pasadena
;
CA
;
USA
;
Thomas I. Harris
;
Optical Research Associates
;
Pasadena
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
38.
Fabrication and optical characteristics of microlens arrays engraved in photoresist coatings
机译:
刻在光刻胶涂层中的微透镜阵列的制备和光学特性
作者:
Francoise Gex
;
Observatoire de Paris-LARCA
;
Paris
;
France
;
Gerard Roblin
;
Institut dOptique Theorique et Appliquee/IOTA
;
Orsay Cedex
;
France
;
Guy E. Artzner
;
Institut dAstrophysique Spatiale/IAS
;
Orsay
;
Cedex
;
France
;
L.Bernstein
;
Institut dOptique The
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
39.
Design of optical interference coatings 1992
机译:
光学干涉涂层设计1992
作者:
Alfred J. Thelen
;
Ingenieurbuero Thelen
;
Schmitten
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
40.
Damage threshold determination according to ISO-DIS 11254: first results
机译:
根据ISO-DIS 11254确定损坏阈值:第一结果
作者:
Juergen Becker
;
Festkoerper-Laser-Institut Berlin GmbH
;
Alzenau
;
Federal Republic of Germany
;
Achim Bernhardt
;
Festkoerper-Laser-Institut Berlin GmbH
;
Berlin
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
|
1992年
41.
Application of the PST-function to radiometric thermometers
机译:
PST功能在辐射温度计中的应用
作者:
Author(s): Norbert Schuster Technische Hochschule Ilmenau Ilmenau Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Specification and Measurement of Optical Systems》
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1992年
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