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中国电子学会可靠性分会第八届学术年会
中国电子学会可靠性分会第八届学术年会
召开年:
1996
召开地:
广州
出版时间:
1997-01
主办单位:
中国电子学会
会议文集:
中国电子学会可靠性分会第八届学术年会论文集
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1.
电迁徙参数--电流密度因子的动态测量
孙英华
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
用于评估微电子器件金属化寿命的在数电流密度因子(n)的测量一直是个难题。
电子器件;
2.
指挥引导自动化系统可靠性设计中若干问题的探讨
常国岑
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
可靠性设计是指挥引导自动经系统总体设计的一项重要内容。
指挥;
3.
指挥所自动化系统平台的可靠性模型及几种推荐模型的有效性分析
常国岑
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文从C〈’3〉I系统指挥所国化系统平台的基本可靠性模型出发导出了几种改进的可靠性模型,将可靠性与维修性相结合对几种推荐模型的有效性进行了分析比较,通过实例计算说明了共用热备模型在提高系统平台的有效性方面具有明显的优势。
指挥;
4.
某机载计算机机箱的EMC设计
张素英
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
阐述某机载计算机机箱EMC设计的方法。
机载计算机;
5.
复杂系统可靠性评定初探
周菊英
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文以×××舰综合通信系统为对象,对复杂系统可靠性模型提出了简化处理方法,用经典方法对复杂系统进行了可靠性评定。
航海通信;
6.
某航空产品贮存可靠性影响因素及针对措施探讨
高德记
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文结合某航空产品的具体情况,对某空产品贮存可靠性的认识和在工作中的体会,对影响某空产品贮存可靠性的主要因素进行初步分析;对霜舱航空产品贮存可靠性提出自己的见解。
航空兵器;
7.
健壮设计与健壮质量管理
陈光远
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
简要回顾健壮设计的由来及其发展,着重对健壮设计与健壮质量管理的定义及其显著特点作出较为全面地探索。
质量管理;
8.
可靠性技术在新品研制中的应用
高惠潮
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
可靠性是一切产品必须保证的重要属性,军品尤其突出。
质量管理;
9.
技术状态控制与实践
高德记
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
结合该中心的工作实践,论述了技术状态控制的内容与其实施途径比较详细地介绍了该中心实施技术状态控制的方法和取得的效果。
质量管理;
10.
软件生存周期的质量管理和质量保证
尹大义
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文主要叙述软件生存周期的质量管理和质量保证要求,并对这些要求进行了描述。
质量管理;
11.
注F加固PMOSFET的电离辐射响应与时间退火效应
严荣良
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文研究了注F加固PMOSFET的总剂量辐照响应特性和辐照后氧化物电荷、界面态变化与时间、温度、偏置等退火条件的关系,发现一定退火条件下注F加固PMOSFET氧化物电荷和界面态密度在电离辐照后不同程度的继续增长,探讨了加速MOS器件电离辐照界面态生长的实验室方法。
MOS存储器;
12.
GaAs双栅微波低噪声管抗ESD研究
来萍
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
对两种工艺结构的GaAs双栅微波低噪声管CS0563和WC54进行了抗静电放电(ESD)摸底对比试验和失效分析,发现采用了“T”型栅结构(栅柄在栅条中间引出)的CS0563的抗ESD能力比WC54差。
微波管;
13.
浅谈软件可靠性的评估技术
文长康
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
从软件可靠性在推进国民经济信息化以及在开口装备中的重要性出发,阐述了与软件可靠性评估技术有关的三方面内容:软件可靠性指标是评估的前提和基础,软件可靠性模型是评估的重要工具,软件测试是评估前的必要步骤。
质量管理;
14.
定时截尾试验方案十七的另一个提前评定方案的介绍与分析
董正明
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
GJB899附录A及MIL-HDBK-781D中都提出了管理者提前评定的试验方案,其中方案17、20与标准试验方案17、20相比,最大接收故障数分别相同,但提前评定方案的最长试验时间要比标准方案长。
试验设计;
15.
利用回流效应的新型金属化系统研究
李志国
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文研究了Al金属化系统中的回流效应,提出了一种全新三层金属化系统抗电迁徙结构,同时对新旧两种结构的金属化系统进行了各种动态应力的电迁徙实验对比,结果显示出新结构在抗电迁徙性能上的明显优越性,SEM分析对此也提供了有力的证据。
电子器件;
16.
软件可靠性测试时间的确定
崔利荣
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文对软件的评测提出了名为“调整型阶段测试方法”,并讨论了详细的步骤,同时也给出了具体的说明及一个例子。
质量管理;
17.
SPC的若干新进展
廖小雄
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
SPC(过程质量控制或过程质量管理)是运用质量控制图(休哈特控制图)来监测产品在生产过程中的质量特性,发现存在的或隐含的质量问题,从而迅速采取有效的改进措施,确保生产过程始终处于统计控制状态,以保证产品质量的技术。
质量管理;
18.
军用厚膜电源模块评审中暴露的可靠性问题及对策
徐爱斌
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
电子部五所研究分析中心通过对DC-DC电源变换器厚膜功率模块评审过程的失效分析,准确找到了与DC-DC设计,工艺相关的存在问题和薄弱环节,并进行了对策研究,提出了7条改进措施。
厚膜集成电路;
19.
双极运算放大器的电离辐射响应和时间变化特性
陆妩
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文对TTL双极运算放大器OP07进行了〈’60〉Coγ和1MeV电子电离辐照实验,研究了OP07运放的电离辐射响应特性和抗总剂量辐射水平,并通过研究其电离辐照敏感参数辐照后在室温和100℃高温条件下随时间的变化关系,分析了在电离辐射环境中双极运算放大器的损伤机制及参数失效机理,为该类器件在卫星等电离辐射环境下的可靠应用,提供了实验依据。
运算放大器;
20.
可维修系统的模糊有效性研究
常国岑
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文应用模糊数学与系统工程的理论与方法对可维修系统的经典有效性与不维修系统的模糊可靠性进行了概念扩充,提出了可维修系统模糊有效性的概念,给出了可维修系统的模糊可靠度、模糊维修度和模糊有效度的计算公式,可望对C〈’3〉I系统等既含随机性又含模糊性的可维修系统的可靠性分析提供一种新的思路和方法。
模糊信息处理;
21.
复杂机载电子设备的可靠性保证
岳朝生
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
阐述复杂机载电子设备可靠性保证的主要方法。
电子设备试验;
22.
可靠(稳定)性'三次择优'是通往高可靠性设计必由之路
陈光远
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
力图阐明“三次择优”是通往高可靠(稳定)性设计必由之路;并就其任务、定义、工作程序、实施要点及技术优势等作出较为系统的介绍。
电路可靠性;
23.
P波段集总参数隔离器可靠性试验与分析
宋同勤
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文主要介绍PI皮段射频隔离器五级失效率试验,并对试验数据用质量管理的直方图进行分析得出结论,此结论将给设计者提供优化设计的依据,对用户选择、采购提供了新的思路,对品的使用可靠性有实用价值。
隔离器;
24.
指数分布下竞争失效产品步加寿命试验的统计分析
师义民
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文在产品寿命服从指数分布且具有竞争失效机理的情形下,讨论了定时截尾步加寿命试验的统计分析问题,基于步加试验数据,给出了产品平均寿命的估计方法。
产品;
25.
在航天测控系统工程中软件可靠性及其应用《TW-215/185G工程的软件可靠性》
张巍
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文主要讲述软件可靠性预计和软件可靠性增长技术在航天测控工程中的应用,并介绍了预计方法和增长试验结果。
质量管理;
26.
温差电致冷器的可靠性设计
张建中
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
温差电致冷器是一种长寿命高可靠的半导体器件,又由于它工作时无噪声,不会释放有害物质(如氟氯烃),能在任意角度安装运行,利用调节电压或电流的方式可以精确控制温度等一系列优点,在国防、工业、农业、科学研究各领域都得到了广泛的应用。
温差电致冷器;
27.
电子元器件加严判据加速寿命试验方法研究
易德兴
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文简要阐述了电子元器件加严判据加速寿命试验的基本原理,用加严判据加速寿命试验方法评价了现任中规格有机实芯电阻器和一种规格铝电解电容器的可靠性,建立了加严判据加速寿命方程,给出了评价结果,并用额定应力长期寿命试验对说价方法的准确性进行了验证。
电子元件;
28.
注FMOS器件的可靠性研究
张国强
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
对注FMOSFET和CC4007电路进行了〈’60〉Coγ辐照和退火行为的分析研究,结果表明:栅介质中F的引入,能明显减小CC4007电路辐射感生阈电压的漂移和静态漏电流的增长;抵制高温贮藏引起的CC4007电路漏电流的退化,减小辐射感生氧化物电荷和界面态在退火过程中的再生长速度。
MOS存储器;
29.
3DK7E晶体管eb结反向脉冲损伤阈值测量及其损伤的分析
米绍曾
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
使用脉冲发生器测定了一组3DK7E管eb结反向电磁脉冲损伤阈值。
电磁脉冲;
30.
双极电路质量一致性检验常见失效模式研究
崔文兵
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
集成电路的失效分析已引起国内外各大生产厂家的高度重视,他们在近几年双极电路质量一致性检验的过程中,针对考核中失效的多种情况进行统计整理和分析研究,从中归纳出主要的失效模式和失效机理,该文举例说明双极电路质量一致性检验失效分析的一般方法。
双极集成电路;
31.
温度和湿度对多层陶瓷电容器贮存性能退化的作用机制研究
刘红
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
多层陶瓷电容器(MLC)在贮存过程中的的效模式主要为损耗增大、绝缘电阻下降,并且随着环境温度和湿度的上升,MLC的性能退化加剧。
陶瓷电容器;
32.
频闪技术在集成电路失效分析中的应用
施明哲
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
文中介绍的频闪技术是在SEM505型电镜的电子枪上加装一个偏转装置作为束闸开关,使开关的动作与被测器件上的所加的信号同步,在外围再加接适当的辅助电路,从而可以检测到被脉冲电子束照射的器件的表面所吴现的周期性能变化过程,利用电镜的频闪技术可对数字电路进行动态逻辑功能测试和相位观察,寻找出逻辑电路的失效部位。
集成电路;
33.
装备用软件的质量管理初探
华庆升
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文结合舰载电子装置研制单位的实际,在分析了设备上所用软件研制工作现状与存在问题的基础上,就研制单位内部软件归口管理机构及人员职责、软件研制阶段的划分提出了建议,并着重对软件研制全过程的质量管理提出了一套可供操作的管理方法。
质量管理;
34.
针对元器件的失效模式,实施可靠性控制的技术研究
彭苏娥
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文根据国内元器件产品研制、生产的现状,在论述可靠性控制的基本概念与实施可靠性控制的基本要求的基础上,重点针对产品在研制过程、生产过程出现的失效现象和原因,从设计阶段的可靠性控制,原材料、零部件参数的检测和控制等方面探索了实施元器件可靠性控制的基本内容和相应的控制技术。
电子元件;
35.
国产电子元器件失效率数据分析研究
宋显娜
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
该文对中国八十年代未,九十年代初生产的12大类、56小类电子元器件的失效率水平进行了统计、分析、分析了产品失效率与执行标准的关系、产品失效率与生产年代的关系,对如何提高产品的质量与可靠性水平提出的建议。
电子元件;
36.
MTBF保证试验使用方风险分析
朱圣清
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
对MTBF保证试验的使用方风险分不同情况作了简要分析,并引论出美军标781对其保证试验提出的前提条的必要性。
试验规范;
37.
注F MOS器件的可靠性研究
张国强
;
陆妩
《中国电子学会可靠性分会第八届学术年会》
|
1996年
摘要:
对注F MOSFET和CC4007电路进行了〈’60〉Coγ辐照和退火行为的分析研究,结果表明:栅介质中F的引入,能明显减小CC4007电路辐射感生阈电压的漂移和静态漏电流的增长;抵制高温贮藏引起的CC4007电路漏电流的退化,减小辐射感生氧化物电荷和界面态在退火过程中的再生长速度。F-Si键的形成将减小MOS栅氧介质的电导率。
MOS存储器;
可靠性;
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