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机译:在深亚微米(DSM)VLSI电路中权衡瞬态容错能力和功耗
CMOS integrated circuits; SPICE; VLSI; circuit simulation; embedded systems; fault tolerance; integrated circuit modelling; integrated circuit reliability; low-power electronics; power consumption; transients; 102 muW; 20 muW; CMOS circuit performance; MTTF; circuit le;
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