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机译:InP晶体中空位型缺陷的退火
机译:通过缓慢正电子束探测的氖离子照射钨的后照射后退火的空位型缺陷的显着增长
机译:低温退火过程中亚微晶镍的晶粒亚晶结构和空位类型缺陷
机译:在高温下退火的InP中电子辐照引起的缺陷
机译:退火期间亚微晶镍中空位型缺陷等级的正电子湮没光谱
机译:使用同步加速器白束X射线形貌研究CdZnTe和InP单晶中的缺陷生成。
机译:用于闪烁的Lu2(1-x)Y2xSiO5(LYSO)单晶的缺陷识别和退火效果
机译:退火过程中亚微晶镍中空位类型缺陷层次的正电子an没光谱