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机译:椭偏测量法提取吸收膜的复折射率
Universite de Reims Champagne-Ardenne, GReSPI, BP 1039, 51687 Reims Cedex 2, France;
ellipsometry; data inversion; thin films; absorbing films; optical properties; refractive index; extinction coefficient;
机译:椭圆光度法测量薄膜的折射率分布
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏法测量极薄薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性能〜1
机译:椭偏法测量复合薄膜的折射率分布
机译:使用椭偏仪测量太赫兹范围内液体的复数折射率
机译:吸收材料的毫米波复介电常数和复磁导率测量(高斯光学)。
机译:过去的宝藏VII:通过椭偏仪测量非常薄膜的厚度和折射率以及表面的光学性质
机译:测量非常薄膜的厚度和折射率和椭圆形测量表面的光学性质
机译:扫描椭圆偏光法作为吸收表面薄膜表征的工具。