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【24h】

Method of Identifying Failure Places in Digital Devices Based on CMOS Elements

机译:基于CMOS元件的数字设备故障位置识别方法

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摘要

A method and an implementing device for simplifying and facilitating the process of quality control of assemblies of digital CMOS devices are proposed.
机译:提出了一种简化和促进数字CMOS器件组件的质量控制过程的方法和实现装置。

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