机译:具有相位域电平交叉的基于噪声的基于VCO的非均匀采样ADC
Univ Southern Calif, Dept Elect Engn, Los Angeles, CA 90089 USA;
Univ Southern Calif, Dept Elect Engn, Los Angeles, CA 90089 USA;
Analog-to-digital converter (ADC); calibration; delta-sigma modulator (DSM); level crossing; noise shaping; nonuniform sampling (NUS); oscillator based; pulse-frequency modulation (PFM); voltage-controlled oscillator (VCO) based;
机译:用于生物医学应用的具有自适应采样功能的61nW跨电平ADC
机译:基于残差量化的28nm CMOS自适应分辨率准电平交叉采样ADC
机译:基于28-NM CMOS中的残留量化的自适应分辨率准分流adc
机译:具有单相域电平交叉和28nm CMOS嵌入式非均匀数字信号处理器的16.7 A 40MHz-BW 76.2dB / 78.0dB SNDR / DR噪声整形非均匀采样ADC
机译:使用片上DAC消除了对基于VCO的ADC测试仪的依赖。
机译:连续时间道口采样aDC用于生物电位电生理记录系统
机译:频域自适应分辨率水平交叉采样ADC