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机译:过度偏置加热对钛微测辐射热计红外探测器的影响
bolometers; infrared detectors; micro-optomechanical devices; optical testing; titanium; MEMS; Ti; bias current; bias heating effect; bias stress; coefficient of resistance compensation; destructive I-V measurements; electrical damages; microelectromechanical systems;
机译:研究钛合金辐射热探测器红外探测器由于加热而导致的性能下降
机译:微型辐射热计红外探测器阵列中自热效应的片上补偿
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机译:电阻式非制冷微测辐射热计探测器的偏置加热消除方法
机译:远红外和亚毫米微测辐射热计探测器
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机译:CmOs兼容的纳米管 - 微测辐射热计 - 红外探测器