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Monitoring of Temperature Distribution in a Thin Film Heater by an Array of a-Si:H Temperature Sensors

机译:通过a-Si:H温度传感器阵列监视薄膜加热器中的温度分布

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摘要

In this paper, we propose the use of an array of amorphous silicon (a-Si:H) p-i-n diodes to monitor the spatial temperature distribution over a thin film heater used for thermal treatments in lab-on-chip systems. The effects of heater geometry and operating conditions on the spatial temperature distribution have been preliminarily investigated by using COMSOL Multiphysics, coupling the electrostatic problem with the thermal problem via the Joule effect. Depending on the analyzed system, nonuniform temperature profiles can be induced over the heater surface revealing the need for a temperature point-monitoring. An example of whole device, constituted by a serpentine shaped TiW/Al/TiW thin film heater and five a-Si:H diodes deposited between the resistor meanders, has been fabricated on a microscope glass slide and characterized. Voltage-temperature characteristics of the a-Si:H sensors, measured at constant forward current, show a sensitivity around . The spatial temperature distribution along the heater has been derived measuring the voltage across each a-Si:H diode. A good agreement between modeled and measured data is obtained, demonstrating the suitability of the a-Si:H array as temperature distribution sensors in lab-on-chip application.
机译:在本文中,我们建议使用非晶硅(a-Si:H)p-i-n二极管阵列来监视用于芯片实验室系统中的热处理的薄膜加热器的空间温度分布。通过使用COMSOL Multiphysics初步研究了加热器几何形状和运行条件对空间温度分布的影响,并通过焦耳效应将静电问题与热问题耦合在一起。根据所分析的系统,可以在加热器表面上感应出不均匀的温度曲线,这表明需要监控温度点。由蛇形TiW / Al / TiW薄膜加热器和沉积在电阻器曲折之间的五个a-Si:H二极管组成的整个设备的一个示例已在显微镜载玻片上进行了制作并进行了特性分析。在恒定的正向电流下测量的a-Si:H传感器的电压-温度特性显示出左右的灵敏度。已经得出了沿着加热器的空间温度分布,测量了每个a-Si:H二极管上的电压。在建模数据和测量数据之间获得了良好的一致性,证明了a-Si:H阵列在芯片实验室应用中作为温度分布传感器的适用性。

著录项

  • 来源
    《Sensors Journal, IEEE》 |2012年第5期|p.1209-1213|共5页
  • 作者

    Caputo D.;

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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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