机译:使用同心边缘电场传感器测量涂层厚度和载荷
Mechanical Engineering Department, University of Washington, Seattle, WA, USA|c|;
Fringing electric field sensor; algorithm; capacitance; coating thickness; loading;
机译:压电晶片活性传感器E / M阻抗的耦合现场建模,用于多发性涂层厚度测量
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机译:多次穿透深度边缘电场传感器测量的不确定度
机译:同心边缘电场传感器的参数化建模
机译:使用条纹效应传感器和传感器阵列测量介电性能和介电膜厚度。
机译:基于EMD的新型电场条纹对微电容位移传感器影响的提取方法
机译:多个穿透深度边缘电场传感器测量的不确定性
机译:介质镜涂层中结节缺陷的激光损伤敏感性:aFm测量和电场建模。