机译:单门和双门Soi Nmosfets电气特性的改进发电寿命模型
LSI/PSI/USP, University of Sao Paulo, Av. Prof. Luciano Gualberto, Trav. 3, No. 158, 05508-900, Sao Paulo, Brazil;
机译:基于物理的超薄单栅极和双栅极SOI n-MOSFET中低场电子迁移率的建模
机译:开发用于模拟超薄单栅极和双栅极SOI MOSFET的分析迁移率模型
机译:平面双栅极SOI MOS器件:通过在预图案化的腔体上进行晶圆键合和电特性表征来制造
机译:确定短沟道SOI nMOSFET产生寿命的改进模型
机译:用于高级发电的机翼寿命预测模型。
机译:利用土壤表观电导率优化土壤渗透性采样并改善土壤压实的空间格局估算
机译:热载流子老化与nmOsFET中pBTI降解之间的相互作用:表征,建模和寿命预测