...
首页> 外文期刊>半導体産業新聞 >•STマイクロ車載MCUにPCM20年までに評価試験完了
【24h】

•STマイクロ車載MCUにPCM20年までに評価試験完了

机译:•ST微型车载MCU PCM通过20年完成评估测试

获取原文
获取原文并翻译 | 示例

摘要

STマイクロエレクト口ニクス(日本法人=東京都港区港南2-15-1、03-5783-8260)は、車載用マイコン(MC U)向けに設計された28nm FD-SOI (完全空乏型シリコン·オン·インシュレーター)技術と組み込み型相変化メモリー (e PCM)に基づくアーキテクチャーを発表した。すでに主要顧客向けにサンプル出荷を開始しており、車載アプリケーション要件への適合試験や総合的な信頼性評価を2020年までに終える見通し。
机译:ST Micro-Elect Exit Nixe(日本公司=东京都港区港南市2-15-1 Konan,03-5783-8260)是为车载微型计算机(MCU)设计的28nm FD-SOI(完全耗尽的硅传感器)。宣布了一种基于绝缘体技术和嵌入式相变存储器(ePCM)的架构。我们已经开始向主要客户提供样品,并有望在2020年之前完成针对汽车应用要求的一致性测试和全面的可靠性评估。

著录项

  • 来源
    《半導体産業新聞》 |2019年第2329期|2-2|共1页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号