NECEL，新構造MOS型保護回路を開発構造改善でシステムLSIの信頼性向上

摘要

NECエレクトロニクス（NECEL）は，45nmプロセスに向けて，システムLSlの信頼性向上につながる「静 電気放電（ESD：Electrostatjc　Discharge）破壊を防止する回路」に関する保護技術を確立，その発表を行 った。今回開発された技術は，汎用用途に対応する入出力部へ挿入するESD保護回路に関するもので，これま で同社が開発してきた様々なESD保護技術に，新開発の技術を組み合わせることで，45nm以降の微細プロセ スによるシステムLSlの信頼性を大幅に向上させることが可能となる。