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【24h】

戸ジメ回路継電器接点不良に伴う戸開不良防止の研究

机译:防止因门接触故障而导致开门失败的研究

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摘要

再現性の低い戸開不良の原因は、戸ジメ回路継電器の『接点酸化被膜』および『接点異物介在』による接点導通不良であった。対策として、『アーク飛ばし』による接点クリーニングおよび接点の双子化を実施し、これらの問題を解決した。 今回新たに採用した双子接点の継電器は構造的にも信頼性が高い機器であり、今後戸ジメ回路以外の回路や他形式の車両においても採用を検討していく。
机译:开门再现性差的原因是由于门混杂电路继电器的“接触氧化膜”和“接触异物插入”而导致的接触连续性差。作为对策,我们通过“电弧飞弧”(Arc flying)进行触点清洁,并将触点配对以解决这些问题。这次新采用的双触点继电器是一种结构上高度可靠的设备,将来将被考虑用于除门混杂电路以外的电路和其他类型的车辆中。

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