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日本NI ソースメジャーユニット発売 テストのコスト消減 市場投入までの時間短縮

机译:在日本推出NI源测量装置降低了测试成本缩短了上市时间

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摘要

日本ナショナルインスツルメンツ(日本NI)は26日、モジュールタイプの計測器でソースメジャーユニット(SMU、計測電源)「NI PXIe-4139」を発売した。同社のSMUラインアップに新たに高性能パージョンが加わり、半導体や自動車、家庭用電化製品などのテストにかかるコストを削減。市場投入までの時間を短縮できる。過渡応答時間を短縮することで全体のテスト時間を短縮し、高い誘導負荷や容量性負荷がかかってもテスト対象デバイスを保護するNI SourceAdapt技術を採用。SMU制御ループをカスタマイズすることで、いかなる負荷にも最適なシステム応答を実現。同技術により、テスト対象デバイスが保護され、システムの安定性が向上する。
机译:日本国家仪器公司(NI)在26日发布了源测量单元(SMU,测量电源)“ NI PXIe-4139”作为模块型测量仪器。该公司的SMU系列增加了一个新的高性能版本,以降低测试半导体,汽车和家用电器的成本。上市时间可以缩短。 NI Source Adapt技术用于通过减少瞬态响应时间来减少总体测试时间,并在高感性和容性负载下保护被测设备。通过定制SMU控制回路,实现对任何负载的最佳系统响应。该技术可以保护被测设备并提高系统稳定性。

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  • 来源
    《电波新闻》 |2014年第28期|7-7|共1页
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